產(chǎn)品介紹

紋影儀可用來觀察透明介質(zhì)因各種因素引起的擾動(dòng)的分布、傳播過程以及擾動(dòng)強(qiáng)度等。如研究激光與物質(zhì)作用、分層流、多項(xiàng)流、傳熱與傳質(zhì)、激波、超聲速流、燃燒、火焰、爆炸、等離子體、內(nèi)彈道及某些化學(xué)反應(yīng)等學(xué)科的流場(chǎng)密度變化科學(xué)研究。泰普勒紋影儀是傳統(tǒng)、使用*的一種。

技術(shù)參數(shù)：

其中主反射鏡光學(xué)材料：K9光學(xué)玻璃，應(yīng)力≤2，加工面型精度＜1/10λ；反射面真空鍍鋁，鍍二氧化硅保護(hù)膜。小反射鏡表面真空鍍鋁，鍍二氧化硅保護(hù)膜，反射系數(shù)≥90%，面型精度＜1/10波長(zhǎng)。

該系統(tǒng)主要的光機(jī)部件主要可以分為：光源狹縫系統(tǒng)、主球面反射鏡裝調(diào)機(jī)構(gòu)、刀口成像系統(tǒng)三個(gè)部分。其中，光源狹縫系統(tǒng)和其中一塊主球面反射鏡組成準(zhǔn)直系統(tǒng)，刀口成像系統(tǒng)與其中一塊主球面反射鏡組成紋影觀視系統(tǒng)，分別布局于兩個(gè)平臺(tái)上。

紋影法，又稱紋影技術(shù)，包括黑、白紋影法，彩色紋影法和干涉紋影法，是用紋影系統(tǒng)進(jìn)行流場(chǎng)顯示和測(cè)量的常用的光學(xué)方法。紋影法首先由Toepler于1864年提出，并應(yīng)用在光學(xué)玻璃折射率的檢測(cè)中。

1952年 ，Holde和Norht在紋影系統(tǒng)上使用白光的分光棱鏡 ，實(shí)現(xiàn)了彩色紋影成象，擴(kuò)大了紋影技術(shù)的應(yīng)用范圍；1962年，Bland和pelick用紋影法研究了水的壓力和溫度效應(yīng)后指出，紋影法實(shí)用于水洞 的流場(chǎng)顯示；1974年 ，Merzkirch對(duì)可壓縮流場(chǎng)中的紋影技術(shù)進(jìn)行了分類，把涉及到在紋影系統(tǒng)上進(jìn)行的干涉紋影法的研究 ，包括光柵干涉、棱鏡干涉以及Moire條紋干涉等 ，均歸類于紋影技術(shù),并得到國(guó)內(nèi)同行的認(rèn)可。